Tehnologia SMAL (Super Resolution Microsphere Magnifying lens) poate fi folosita pentru inspectia vizuala, non-distructiva si fara contact a chipurilor, precum si pentru inspectia unui intreg wafer de siliciu in linia de productie pentru controlul calitatii

Deoarece tehnologia SMAL foloseste pentru iluminare un spectru larg, lumea nanoscopica poate fi observata in imagini color. Microscopul optic de super-rezolutie Nanoro-M poate fi utilizat pentru aplicatii complexe, ad-hoc, pentru care, in mod normal, un microscop electronic sau un microscop de forta atomica nu ar fi adecvate. Inspectie de inalta calitate=un mai bun control al calitatii=costuri reduse si eficienta in fabricatie