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材料科学

使用 Nanoro M 对具有 Immersion SMAL 的微芯片进行自上而下的研究。

图 1:使用 Nanoro M 通过 10 倍物镜获取的 1 mm × 1 mm 的广域扫描。

图 2:使用 Nanoro M 通过 100 倍油浸镜头捕获的 100 µm × 100 µm 大面积扫描。

图 3:使用 SMAL 浸没模式获得的微芯片快照。

图 4:图 3 的放大视图,显示使用 Nanoro 软件测量的 65 纳米特征。

图 5:使用 Nanoro M 上的 SMAL 浸没对微芯片的 50 µm × 50 µm 区域进行目标扫描。

图 6:图 5 的放大视图,显示使用 Nanoro 软件测量的 80 纳米特征。

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半导体

SMAL 镜头与标准显微镜物镜之间的图像比较。

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使用 Nanoro Generation 在正常模式和蓝色模式下扫描微芯片,
可揭示 60 纳米特征:

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不同的应用示例:

由于SMAL镜头的工作距离较短(1.5微米),样品需要完美的平整度

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AAO - 150 nm pores

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Photonic crystal fiber core

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Scan of ferroelectric Domains

Scan of a solar cells

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